1. Optisen metallografisen mikroskoopin ja atomivoimamikroskoopin integroitu suunnittelu, tehokkaat toiminnot

2. Siinä on sekä optisen mikroskoopin että atomivoimamikroskoopin kuvantamistoiminnot, jotka molemmat voivat toimia samanaikaisesti vaikuttamatta toisiinsa

3. Samaan aikaan sillä on optisen kaksiulotteisen mittauksen ja atomivoimamikroskoopin kolmiulotteisen mittauksen toiminnot

4. Lasertunnistuspää ja näytteen skannausvaihe on integroitu, rakenne on erittäin vakaa ja häiriönesto on vahva

5. Tarkkuussondin paikannuslaite, laserpisteen kohdistuksen säätö on erittäin helppoa

6. Yksiakselinen käyttönäyte lähestyy automaattisesti anturia pystysuunnassa niin, että neulan kärki skannataan kohtisuorassa näytteeseen nähden

7. Moottoriohjatun paineistetun pietsosähköisen keraamisen automaattisen tunnistuksen älykäs neulansyöttömenetelmä suojaa anturia ja näytettä

8. Erittäin suuren suurennoksen optinen paikannusjärjestelmä anturin ja näytteen skannausalueen tarkan sijainnin saavuttamiseksi

9. Integroitu skannerin epälineaarisen korjauksen käyttäjäeditori, nanometrin karakterisointi ja mittaustarkkuus parempi kuin 98 %

Tekniset tiedot: