4xb -esittely
4xB: n kiikarin käänteinen metallografista mikroskooppia käytetään eri metallien ja seosten rakenteen tunnistamiseen ja analysointiin. Se sopii metallografisen rakenteen ja pintamorfologian mikroskooppiseen havaintoon.
Tarkkailujärjestelmä
Instrumenttipohjan tukialue on suuri ja kaareva käsivarsi on luja, joten instrumentin painopiste on matala ja vakaa ja luotettava. Koska okulaari ja tukipinta ovat kallistuneet 45 °: ssa, havainto on mukava.
Mekaaninen vaihe
Mekaanisesti liikkuva vaihe sisäänrakennetulla pyörivällä pyöreällä vaihekautalevyllä. Astiatyyppejä on kahta tyyppiä, sisäreikillä φ10mm ja φ20 mm.
Valaistusjärjestelmä
Hyväksy Kohler -valaistusjärjestelmä, joka on muuttuva valopalkki, 6V20W halogeenivalaistus, säädettävä kirkkaus. AC 220 V (50Hz).
4xb -kokoonpanopöytä
| Kokoonpano | Malli | |
| Esine | Eritelmä | 4xB |
| Optinen järjestelmä | Ääretön optinen järjestelmä | · |
| tarkkailuputki | Kiikariputki, 45 ° kalteva. | · |
| okulaari | Litteä kenttä okulaari WF10X (φ18mm) | · |
| Flat Field Oypiece WF12.5X (φ15mm) | · | |
| Flat Field One | O | |
| objektiivilinssi | Akromaattinen tavoite 10x/0,25/WD7,31 mm | · |
| Puolisuunnitelma akromaattinen tavoite 40x/0,65/WD0,66 mm | · | |
| Akromaattinen tavoite 100x/1,25/WD0,37 mm (öljy) | · | |
| muunnin | Nelipäästö | · |
| Tarkennusmekanismi | Säätöalue: 25 mm, asteikon ruudukon arvo: 0,002 mm | · |
| Lava | Kaksikerroksinen mekaaninen matkapuhelintyyppi (koko: 180 mmx200mm, liikkumisalue: 50 mmx70mm) | · |
| Valaistusjärjestelmä | 6V 20W halogeenilamppu, kirkkaus säädettävä | · |
| värisuodatin | Keltainen suodatin, vihreä suodatin, sininen suodatin | · |
| ohjelmistopaketti | Metallografinen analyysiohjelmisto (versio 2016, versio 2018) | O |
| Kamera | Metallografinen digitaalikameralaite (5 miljoonaa, 6,3 miljoonaa, 12 miljoonaa, 16 miljoonaa jne.) | |
| 0.5x kameramovitin | ||
| Mikrometri | Korkean tarkkuuden mikrometri (ruudukon arvo 0,01 mm) | |
Huomautus：·”Standardi ；“O"valinnainen
